データ・プロファイリングのシックスシグマ・メトリック

OWBには、データ・プロファイリングのためにシックスシグマ・メトリックも用意されています。データ・プロファイリングを実行すると、検出された欠陥および変則の数がシックスシグマ・メトリックとして示されます。たとえば、データ・プロファイリングを実行して、最初の表と2番目の表の間に行関係があることが検出されたとします。この場合、最初の表でこの行関係に準拠しないレコードの数をシックスシグマ・メトリックを使用して示すことができます。

シックスシグマ・メトリックは、データ・プロファイル・エディタで次の方法で計算されます。

• 集計: 各列について、表内の合計行数（機会）に対するNULL値（欠陥）の数。

• データ型: 各列について、表内の合計行数（機会）に対する、文書化されたデータ型に準拠しない値（欠陥）の数。

• データ型: 各列について、表内の合計行数（機会）に対する、文書化された長さに準拠しない値（欠陥）の数。

• データ型: 各列について、表内の合計行数（機会）に対する、文書化されたスケールに準拠しない値（欠陥）の数。

• データ型: 各列について、表内の合計行数（機会）に対する、文書化された精度に準拠しない値（欠陥）の数。

• パターン: 各列について、表内の合計行数（機会）に対する、共通形式に準拠しない値（欠陥）の数。

• ドメイン: 各列について、表内の合計行数（機会）に対する、文書化されたドメインに準拠しない値（欠陥）の数。

• 参照: 各関係について、表内の合計行数（機会）に対する、文書化された外部キーに準拠しない値（欠陥）の数。

• 参照: 各列について、表内の合計行数（機会）に対する、冗長な値（欠陥）の数。

• 一意キー: 各一意キーについて、表内の合計行数（機会）に対する、文書化された一意キーに準拠しない値（欠陥）の数。

• 外部キー: 各外部キーについて、表内の合計行数（機会）に対する、子なしの行（欠陥）の数。

• データ・ルール: データ・プロファイルに適用された各データ・ルールについて、表内の行数に対する、データ・ルールが失敗した行数。