Sur la page Modifier le cliché de mesure, vous pouvez modifier un cliché de mesure servant de base au calcul des seuils.
Lors de la modification des clichés de mesure, choisissez des dates et heures auxquelles les performances des cibles étaient acceptables pour une charge globale standard.
Le tableau suivant répertorie les recommandations à prendre en compte lors de la saisie de données dans les champs répertoriés.
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Champ |
Description/Recommandation |
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Date |
Lorsque vous choisissez une date, les données utilisées pour le cliché de mesure sont composées des valeurs maximale et minimale des mesures de performances de la cible à cette date particulière. |
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Heure du jour |
Si vous sélectionnez Heure du jour, le nombre obtenu et utilisé pour le cliché de mesure est la valeur cumulée par rapport à l'heure précédente. Par exemple, si vous sélectionnez 11 comme heure du jour, le cliché de mesure sera la valeur moyenne de la mesure entre 10h01 et 10h59. |
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Pourcentage d'alertes de type Critique et d'alertes de type Avertissement |
Une fois les colonnes Valeur faible et Valeur élevée remplies dans la table Données de mesure, les pourcentages seront utilisés par rapport au cliché de mesure afin de calculer les seuils suggérés pour la mesure. Indiquez les pourcentages Avertissement et Critique à utiliser pour calculer les seuils d'avertissement et critique en fonction des valeurs faibles ou élevées des données de performances de cliché de mesure. Pour indiquer 10 %, entrez 10. Pour plus d'informations sur le mode de calcul des seuils, reportez-vous à Calcul de seuils. |
Lorsque vous modifiez le cliché de mesure, puis cliquez sur Exécuter, la page Modifier le cliché de mesure réapparaît avec les données disponibles dans la table Données de mesure. Vous pouvez effectuer les opérations suivantes :
Sélectionner différentes mesures à modifier, ou sélectionner ou désélectionner toutes les mesures. Si vous cliquez sur Ne rien sélectionner, aucun cliché de mesure ne peut être modifié. Pour modifier un cliché de mesure, vous devez sélectionner au moins une mesure.
Régler les valeurs des champs Seuil d'avertissement et Seuil critique.
Entrer de nouvelles valeurs dans les champs Pourcentage d'avertissement et Pourcentage critique, et procéder à un nouveau calcul.
Il s'agit avant tout d'une zone de travail dans laquelle vous pouvez essayer différentes dates et valeurs de seuil jusqu'à obtention d'un résultat approprié.
Pour qu'Enterprise Manager calcule des seuils à l'aide de pourcentages, les critères suivants doivent être satisfaits :
Les mesures doivent avoir des valeurs numériques. Par exemple, Travail SGBD démarré/arrêté est une mesure de chaîne pour laquelle aucun seuil ne peut être calculé. La valeur des seuils critique et d'avertissement de Travail SGBD démarré/arrêté est DOWN.
Les valeurs de mesure minimale et maximale sont disponibles dans la table Données de mesure. Les valeurs des colonnes Valeur faible et Valeur élevée représentent les valeurs minimale et maximale de la mesure en question pour la durée sélectionnée en vue de la création ou la modification d'un cliché de mesure. Par exemple, si vous avez entré la date du 10 décembre (sans sélectionner d'heure) pour la création d'un cliché de mesure et que vous avez cliqué sur Exécuter, la valeur minimale (Valeur faible) sera la valeur la plus faible de la mesure enregistrée entre le 10 décembre à 00h00 et le 10 décembre à 23h59. La valeur maximale (Valeur élevée) est la valeur la plus élevée enregistrée pour la mesure et la date indiquées. Si vous avez indiqué la date et l'heure (10 décembre à 13h00, par exemple), la valeur minimale (Valeur faible) sera la valeur la plus faible de la mesure enregistrée le 10 décembre entre 12h00 et 13h00.
Vous devez saisir des pourcentages de type Avertissement et Critique. Les pourcentages doivent être des nombres entiers > (supérieurs à) zéro.
Pour obtenir des exemples illustrant la manière dont Enterprise Manager calcule les seuils à partir de vos saisies, reportez-vous à Exemples : Calcul de seuils.
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A propos des clichés de mesure
Création, modification, visualisation et utilisation de clichés de mesure
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